太陽(yáng)光電模塊/晶硅/非晶硅/薄膜/聚光型/溫度循環(huán)濕冷凍濕熱測(cè)試箱
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產(chǎn)品名稱: 太陽(yáng)光電模塊/晶硅/非晶硅/薄膜/聚光型/溫度循環(huán)濕冷凍濕熱測(cè)試箱
產(chǎn)品型號(hào): SOLAR
產(chǎn)品展商: 環(huán)境試驗(yàn)箱
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
太陽(yáng)光電模塊/晶硅/非晶硅/薄膜/聚光型/溫度循環(huán)濕冷凍濕熱測(cè)試箱針對(duì)薄膜太陽(yáng)能組件的另一測(cè)試－光浸潤(rùn)測(cè)試，目的在使薄膜組件之電氣特性趨於穩(wěn)定。國(guó)際電工委員會(huì)規(guī)范IEC61646中即指出，每塊模組需經(jīng)過(guò)光浸潤(rùn)測(cè)試達(dá)43千瓦小時(shí)
太陽(yáng)光電模塊/晶硅/非晶硅/薄膜/聚光型/溫度循環(huán)濕冷凍濕熱測(cè)試箱
的詳細(xì)介紹
| | | 高效全機(jī)循環(huán)溫控系統(tǒng) 并符合規(guī)范CCC光源等級(jí)要求 | 針對(duì)薄膜太陽(yáng)能組件的另一測(cè)試－光浸潤(rùn)測(cè)試，目的在使薄膜組件之電氣特性趨於穩(wěn)定。國(guó)際電工委員會(huì)規(guī)范IEC61646中即指出，每塊模組需經(jīng)過(guò)光浸潤(rùn)測(cè)試達(dá)43千瓦小時(shí)，
并且模組溫度須控制在50℃±10℃之內(nèi)。而IEC 60904-9規(guī)范則指出光源等級(jí)須達(dá)到CCC等級(jí)。 | | 硅晶太陽(yáng)能:IEC61215、UL1703 、GB9535
薄膜太陽(yáng)能:IEC61646、GB18911
聚光太陽(yáng)能:IEC62108 、IEEE1513
※相關(guān)試驗(yàn)后皆須進(jìn)行規(guī)范所要求的檢查項(xiàng)目(外觀、絕緣電阻、最大輸出功率) Thermal cycle test(溫度循環(huán)測(cè)試)
目的：確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。 溫度循環(huán)比較 | 低溫 | 高溫 | 溫變率 | 駐留時(shí)間 | 循環(huán)數(shù) | IEC61215 | -40±2℃ | 85±2℃ | 最大100℃/h | 最少10min | 50、200 | GB9535 | -40±2℃ | 85±2℃ | 最大100℃/h | 最少10min | 50、200 | IEC61646 | -40±2℃ | 85±2℃ | 最大100℃/h | 最少10min | 50、200 | GB18911 | -40±2℃ | 85±2℃ | 最大100℃/h | 最少10min | 50、200 | UL1703 | -40±2℃ | 90±2℃ | 最大120℃/h | 30～105min | 200 | IEC62108 | -40±2℃ | 65℃、85℃、110℃ | 10cycle/day | 10min | 500、1000、2000 | IEC62108 | -40℃ | 65℃、85℃、110℃ | 18cycle/day | 10min | 500、1000、2000 | IEEE1513 | -40℃ | 90℃、110℃ | 0.9～7.5℃/min | 最少10min | 250、500 | IEEE1513 | -40℃ | 90℃、110℃ | 最大100℃/h | 最少10min | 100、200 | IEEE1513 | -40℃ | 60℃、90℃ | 最大100℃/h | 最少10min | 50、200 |
Humidity-freeze test(濕冷凍測(cè)試)
目的：確定組件承受高溫、高濕之后以及隨后的零下溫度影響的能力。 溫度循環(huán)比較 | 高溫高濕 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) | IEC61215 | 85℃/85±5%(20h) | -40℃(0.5～4h) | 高溫升降溫(100℃/h)
低溫升降溫(200℃/h) | 10 | GB9535 | 85℃/85±5%(20h) | -40℃(0.5～4h) | 高溫升降溫(100℃/h)
低溫升降溫(200℃/h) | 10 | IEC61646 | 85℃/85±5%(20h) | -40℃(0.5～4h) | 高溫升降溫(100℃/h)
低溫升降溫(200℃/h) | 10 | GB18911 | 85℃/85±5%(20h) | -40℃(0.5～4h) | 高溫升降溫(100℃/h)
低溫升降溫(200℃/h) | 10 | UL1703 | 85℃/85±2.5%(20h) | -40℃(0.5～4h) | 高溫升降溫(120℃/h)
低溫升降溫(200℃/h) | 10 | IEEE1513 | 85℃/85±2.5%(20h) | -40℃(0.5～4h) | 高溫升降溫(100℃/h)
低溫升降溫(200℃/h) | 20 | IEC62108 | 85℃/85±2.5%(20h) | -40℃(0.5～4h) | 高溫升降溫(100℃/h)
低溫升降溫(200℃/h) | 20、40 |
Damp Heat(濕熱測(cè)試)
85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h，目的：確定模塊抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力。 |
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| Models | SOLAR-408 | SOLAR-800 | SOLAR-2380 | SOLAR-2940 | | 內(nèi)箱尺寸(W.D.H)cm | 80x60x85 | 100x80x100 | 100x140x170 | 100x140x210 | | 外箱尺寸(W.D.H)cm | 132x134x172 | 152x154x187 | 172x305x212 | 172x305x252 | | 溫度范圍 Temperature range | -40~100 ℃ | | 濕度范圍 Humidity range | 20%～95% | | 升溫速率 Heating rate | ± 0.01 | | 降溫速率 Cooling rate | ± 2 | | 溫度分辨率 Temperature resolution % | 0.1% | | 濕度分辨率 Humidity resolution ℃ | 0.01℃ |
| | ※以上規(guī)格僅供參考，如有變更不另行通知。 |
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關(guān)鍵字：太陽(yáng)光電模塊/晶硅/非晶硅/薄膜/聚光型/溫度循環(huán)濕冷凍濕熱測(cè)試箱；太陽(yáng)光電模塊/晶硅/非晶硅/薄膜/聚光型/溫度循環(huán)濕冷凍濕熱測(cè)試箱；太陽(yáng)光電模塊/晶硅/非晶硅/薄膜/聚光型/溫度循環(huán)濕冷凍濕熱測(cè)試箱