inTEST 芯片高低溫沖擊測試
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產(chǎn)品名稱: inTEST 芯片高低溫沖擊測試
產(chǎn)品型號:
產(chǎn)品展商: inTEST ThermoStream
簡單介紹
inTEST 冷熱沖擊機可與愛德萬 advantest, 泰瑞達 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等測試機聯(lián)用, 進行芯片的高低溫沖擊測試. 實時監(jiān)測芯片的真實溫度，可隨時調(diào)整沖擊氣流, 對測試機平臺 load board 上的芯片進行快速溫度循環(huán)沖擊, 傳統(tǒng)高低溫箱無法針對此類測試.
inTEST 芯片高低溫沖擊測試
的詳細介紹
芯片多用于門禁卡及物聯(lián)網(wǎng)中, 由于受到工作空間狹小, 芯片接觸面積小, 空氣流通環(huán)境差, 散熱的條件不好等影響,芯片表面可能會經(jīng)歷快速升溫, 并且需要在高溫的環(huán)境中長時間工作; 同時實驗室也會搜集一些芯片的高低溫運行的數(shù)據(jù)做留存資料.所以測試芯片在快速變溫過程中的穩(wěn)定性十分必要.
芯片高低溫測試客戶案例:某半導體公司,芯片測試溫度要求 ﹣40℃～105℃, 選用 InTEST ATS-545 與泰瑞達測試機聯(lián)用, 對芯片進行快速冷熱沖擊, 設置 12組不同形式的循環(huán)溫度設定,快速得到完整準確的數(shù)據(jù).
inTEST ThermoStream ATS-545 技術(shù)參數(shù):
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型號
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溫度范圍 °C
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* 變溫速率
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輸出氣流量
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溫度
精度
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溫度顯示
分辨率
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溫度
傳感器
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ATS-545
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-75 至 + 225(50 HZ)
-80 至 + 225(60 HZ)
不需要LN2或LCO2冷卻
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-55至 +125°C
約 10 S 或更少
+125至 -55°C
約 10 S 或更少
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4 至 18 scfm
1.9至 8.5 l/s
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±1℃
通過美國NIST 校準
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±0.1℃
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T或K型
熱電偶
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