inTEST 熱流儀半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試
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產(chǎn)品名稱: inTEST 熱流儀半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試
產(chǎn)品型號(hào):
產(chǎn)品展商: inTEST ThermoStream
簡單介紹
美國 inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)可與愛德萬 advantest, 泰瑞達(dá) teradyne, 惠瑞捷 verigy 工程機(jī)聯(lián)用, 進(jìn)行半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試. inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)可以快速提供需要的模擬環(huán)境溫度滿足半導(dǎo)體芯片的溫度沖擊和溫度循環(huán)測(cè)試.
inTEST 熱流儀半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試
的詳細(xì)介紹
半導(dǎo)體芯片溫度測(cè)試案例: 某半導(dǎo)體廠商選用 inTEST-Temptronic thermostream ATS-710-M 高速溫度測(cè)試機(jī), 提供循環(huán)測(cè)試溫度：-80°C 至 +225°C，每秒可快速升溫/降溫 18 °C，成功完成芯片的高低溫循環(huán)測(cè)試, 疲勞失效測(cè)試.
inTEST-Temptronic ATS-710-M 提供 2 種檢測(cè)模式 Air Mode 和 DUT Mode，溫度顯示精度：±1°C (通過美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院 NIST 校準(zhǔn)) ，不需要液態(tài)氮?dú)?(N2) 或液態(tài)二氧化碳 (CO2)冷卻。
