半導(dǎo)體元器件高低溫測(cè)試: 為了滿足半導(dǎo)體部分元器件以及 PCB 板部分元件的可靠性, 以及在運(yùn)行功耗的情況下的功能性, 特異性分析, 需要模擬不同的溫度環(huán)境下或者往復(fù)溫度變化下的測(cè)試需要.
半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試客戶案例一: 北京某從事半導(dǎo)體產(chǎn)品 MCU, MSIG, SCR-LM, SRAM 的生產(chǎn)商使用 Thermostream TPO4310 (升級(jí)型號(hào)為 ATS-545) 測(cè)試芯片的耐溫性能, 要求測(cè)試溫度 -45 到 160 °C, TPO4310 測(cè)試溫度范圍 -75 至 +225°C, 輸出氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ±1℃, 可以滿足客戶的需求!
半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試客戶案例二: 某生產(chǎn)半導(dǎo)體元器件企業(yè)
客戶一般在 wifi 模塊以及 PCB 板子中的部分元件測(cè)試. 溫度測(cè)試需要在 -60℃~120℃ 區(qū)間內(nèi)設(shè)定高溫和低溫, 并盡可能減少溫度點(diǎn)之間的切換時(shí)間. 同時(shí)要求均勻的將溫度吹掃至待測(cè)物體表面. 并維持高低溫度設(shè)定點(diǎn)每個(gè)溫度點(diǎn) 12H 切換一次, 照此循環(huán)30次, 并且以上操作不能影響其他非測(cè)試元器件.
針對(duì)客戶提出的測(cè)試要求, 提供半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試解決方案
推薦選用美國(guó) intest Thermostream 熱流儀 ATS -545 可滿足客戶的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)條件.
ATS-545 可提供 -75 to +225°C (50Hz) 的測(cè)試溫度
能夠提供有效的均勻的吹掃氣流垂直的吹到客戶所需要的元器件的表面, 4 to 18scfm 風(fēng)速供客戶根據(jù)不同要求提供選擇
提供標(biāo)準(zhǔn)配件, 接受客戶定制, 滿足不同測(cè)試的元器件所需要的適當(dāng)尺寸
在溫度點(diǎn)之間的跳躍, 更快的速度實(shí)現(xiàn)切換
并且以上操作不影響其他非測(cè)試元器件. 保證客戶的單向分析