本頁(yè)面標(biāo)準(zhǔn)信息均來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)收集，或由參與標(biāo)準(zhǔn)制定的供應(yīng)商提供，只作為參考使用，為確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性、節(jié)省您的時(shí)間，如需GB/T 5170.9-1996標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)信息或GB/T 5170.9-1996具體測(cè)試方法，歡迎致電與我們技術(shù)人員聯(lián)系或給我們留言，我們將為您相關(guān)的技術(shù)支持。
GB/T 5170.9-1996是關(guān)于電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器、檢定條件、測(cè)量點(diǎn)數(shù)量及布放位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)GB/T 2423.24-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽(yáng)輻射》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。