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產(chǎn)品資料

可靠性—HAST介紹

如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: 可靠性—HAST介紹
產(chǎn)品型號: www.hast.cn
產(chǎn)品展商: Lab Companion
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡單介紹


可靠性—HAST介紹  的詳細介紹

可靠性—HAST介紹

什么是HAST? www.hast.cn

(Highly Accelerated Temperature And Humidity Stress Testing)即高加速應(yīng)力測試。通過對樣品施加高溫高濕以及高壓的方式,實現(xiàn)對產(chǎn)品加速老化的一種試驗方法。廣泛用于PCB、IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗,用于評估產(chǎn)品密封性、吸濕性及老化性能。

測試目的:

HAST是針對非氣密性封裝器件,主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度,濕度,壓力的各種條件來完成,這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。

方法說明:

相比于傳統(tǒng)的高溫高濕測試,如85°C/85%RH,HAST增加了容器內(nèi)的壓力,使得設(shè)備可以實現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制,能夠加速溫濕度的老化效果(如遷移,腐蝕,絕緣劣化,材料老化等),大大縮短可靠性評估的測試周期,節(jié)約時間成本?,F(xiàn)在,HAST高加速老化測試已成為某些行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn),特別是在PCB、半導(dǎo)體、太陽能、顯示面板等產(chǎn)品中,作為標(biāo)準(zhǔn)高溫高濕測試(如85C/85%RH-1000小時)的快速有效替代方案。

常見的試驗標(biāo)準(zhǔn):

  • GB/T 2423.40 未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
  • IEC 60068-2:66
  • JESD22-A110D
  • AEC Q101
  • JIS C0096-2

其中:

1. GB/T 2423.40里面詳細闡述了對進行HAST試驗的試驗箱的具體要求,如升降溫的時間、試驗箱對溫濕度的精度控制要求等。

2. JSD22-A110D詳細闡述了HAST試驗的方法,如建議的試驗條件(如130°C85%RH)、產(chǎn)品Bias如何施加等,另外也對HAST的失效機理進行了說明。

3. AECQ101明確了汽車電子行業(yè)對HAST的具體要求。

如:標(biāo)準(zhǔn)GB/T 2423.40的試驗方法:

應(yīng)用案例:PCBHAST

PCB為確保其長時間使用質(zhì)量與可靠度,需進行SIR(Surface Insulation Resistance)即表面絕緣電阻試驗,找出PCB是否會發(fā)生離子遷移與CAF(陽極導(dǎo)電細絲)現(xiàn)象,離子遷移與是在加濕狀態(tài)下(如:85℃/85%R.H.),施加恒定偏壓(如:50V),離子化金屬向相反電極間移動(陰極向陽極生長),相對電極還原成原來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象。這種遷移往往會造成PCB導(dǎo)體間短路問題,是PCB非常重要的檢測項目。

設(shè)備參數(shù)

試驗罐尺寸 φ420xD485mm(容量67L)
有效內(nèi)部尺寸 φ340Xd475mm(容量40L)
溫度控制方式 PID控制/SCR控制
測試模式 HUM(不飽和)測試模式/STD(飽和)測試模式
操作模式 定值運行模式/程序運行模式
溫度范圍 105.0-133℃(100%RH)
110.0-140.0℃(85%RH)
118.0-150.0℃(65%RH)
濕度范圍 65-100% 相對濕度
壓力范圍 0.019~0.208MPa

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