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溫度循環(huán)Temperature Cycling Test/溫度沖擊測試Thermal Cycling/Shock
溫度循環(huán)/溫度沖擊測試(Thermal Cycling/Shock)
溫度循環(huán)試驗
(Thermal Cycling Test)
在產(chǎn)品的生命周期中,可能面臨各種環(huán)境的條件下,使得產(chǎn)品在脆弱的部份顯現(xiàn)出來,造成產(chǎn)品的損傷或失效,進而影響到產(chǎn)品的可靠度。
以每分鐘5~15度的溫變率,在溫度變化上做一連串的高、低溫循環(huán)測試,此試驗并非真正模擬實際情況。其目的在施加應力于試件上,加速試件之老化因子,使試件在環(huán)境因素下可能產(chǎn)生損害系統(tǒng)設備及零組件,以決定試件是否正確設計或制造。 常見的有:
產(chǎn)品之電性功能
潤滑劑變質(zhì)而失去潤滑作用
喪失機械強度,造成破裂、裂縫
材質(zhì)之變質(zhì)而引起化學作用應用范圍:
模塊/系統(tǒng)成品類產(chǎn)品環(huán)境仿真試驗
模塊/系統(tǒng)成品類產(chǎn)品應力壽命試驗(Strife test)
PCB/PCBA/焊點加速應力試驗(ALT/AST)…
溫度沖擊試驗(Thermal Shock)
在產(chǎn)品的生命周期中,可能面臨各種環(huán)境的條件下,使得產(chǎn)品在脆弱的部份顯現(xiàn)出來,造成產(chǎn)品的損傷或失效,進而影響到產(chǎn)品的可靠度。
以每分鐘40度的溫變率,在溫度急速變化上做極嚴苛條件之高、低溫沖擊測試,此試驗并非真正模擬實際情況。其目的在施加嚴苛應力于試件上,加速試件之老化因子,使試件在環(huán)境因素下可能產(chǎn)生潛在性損害系統(tǒng)設備及零組件,以決定試件是否正確設計或制造。 常見的有:
產(chǎn)品之電性功能
產(chǎn)品結(jié)構(gòu)毀壞或強度降低
零組件之錫裂現(xiàn)象
材質(zhì)之變質(zhì)而引起化學作用
密封損害
機臺規(guī)格:
Temperature range:-70℃~+200℃
Recovery time:< 10 min
Inside dimension:65(W)*67(D)*46(H)/cm應用范圍:
PCB可靠度加速試驗
車電模塊加速壽命試驗
LED零件加速試驗…
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溫度/高空(減氣壓)試驗(Temp./Low Air Pressure Test)
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