隨著汽車(chē)電子技術(shù)的進(jìn)步，今天的汽車(chē)?yán)锒加泻芏喾毖}的數(shù)據(jù)管理控制系統(tǒng)，并透過(guò)許多各自獨(dú)立的電路，來(lái)傳遞每個(gè)模組間所需要的訊號(hào)，汽車(chē)內(nèi)部的系統(tǒng)就好比電腦網(wǎng)路的「主從架構(gòu)」，在主體控制單元與每個(gè)周邊模組中，車(chē)用電子零件分為三大類(lèi)別，包含IC、離散半導(dǎo)體、被動(dòng)元件三大類(lèi)別，為了確保這些汽車(chē)電子零組件符合汽車(chē)anquan的最高標(biāo)準(zhǔn)，美國(guó)汽車(chē)電子協(xié)會(huì)(AEC，Automotive Electronics Council )係以主動(dòng)零件[微控制器與積體電路..等]為標(biāo)的所設(shè)計(jì)出的一套標(biāo)準(zhǔn) [AEC-Q100]、針對(duì)被動(dòng)元件設(shè)計(jì)為[[AEC-Q200]，其規(guī)范了被動(dòng)零件所必須達(dá)成的產(chǎn)品品質(zhì)與可靠度，AEC-Q100為AEC組織所制訂的車(chē)用可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，為3C、IC廠商打進(jìn)國(guó)際車(chē)用大廠模組的重要入場(chǎng)卷，也是提高臺(tái)灣IC可靠性品質(zhì)的重要技術(shù)，此外，目前國(guó)際大廠已經(jīng)通過(guò)車(chē)用anquan性標(biāo)準(zhǔn)(ISO-26262)，而AEC-Q100則為通過(guò)該標(biāo)準(zhǔn)的基本要求。

要求通過(guò)AECQ-100的車(chē)用電子零配件哉要列表：

車(chē)用一次性記憶體、電源降壓穩(wěn)壓器、車(chē)用光電耦合器、三軸加速規(guī)感測(cè)器、視訊jiema器、整流器、環(huán)境光感測(cè)器、非易失性鐵電存儲(chǔ)器、電源管理IC、嵌入式快閃記憶體、DC/DC穩(wěn)壓器、車(chē)規(guī)網(wǎng)路通訊設(shè)備、液晶驅(qū)動(dòng)IC、單電源差動(dòng)放大器、電容接近式開(kāi)關(guān)、高亮度LED驅(qū)動(dòng)器、非同步切換器、600V IC、GPS IC、ADAS高級(jí)駕駛員輔助系統(tǒng)晶片、GNSS接收器、GNSS前端放大器..等。

AEC-Q100類(lèi)別與測(cè)試：

說(shuō)明：AEC-Q100規(guī)范7大類(lèi)別共41項(xiàng)的測(cè)試
群組A-加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試(ACCELERATED ENVIRONMENT STRESS TESTS)共6項(xiàng)測(cè)試，包含：PC、THB、HAST、AC、UHST、TH、TC、PTC、HTSL
群組B-加速生命週期模擬測(cè)試(ACCELERATED LIFETIME SIMULATION TESTS)共3項(xiàng)測(cè)試，包含：HTOL、ELFR、EDR
群組C-封裝組裝完整性測(cè)試(PACKAGE ASSEMBLY INTEGRITY TESTS)共6項(xiàng)測(cè)試，包含：WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI
群組D-晶片製造可靠性測(cè)試(DIE FABRICATION RELIABILITY TESTS)共5項(xiàng)測(cè)試，包含：EM、TDDB、HCI、NBTI、SM
群組E-電性驗(yàn)證測(cè)試(ELECTRICAL VERIFICATION TESTS)共11項(xiàng)測(cè)試，包含：TEST、FG、HBM/MM、CDM、LU、ED、CHAR、GL、EMC、SC、SER
群組F-缺陷篩選測(cè)試(DEFECT SCREENING TESTS)共11項(xiàng)測(cè)試，包含：PAT、SBA
群組G-腔封裝完整性測(cè)試(CAVITY PACKAGE INTEGRITY TESTS)共8項(xiàng)測(cè)試，包含：MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV

測(cè)試項(xiàng)目簡(jiǎn)稱(chēng)說(shuō)明：

AC：壓力鍋
CA：恆加速
CDM：靜電放電帶電器件模式
CHAR：特性描述
DROP：包裝跌落
DS：晶片剪切試驗(yàn)
ED：電分配
EDR：非易失效儲(chǔ)存耐久性、數(shù)據(jù)保持性、工作壽命
ELFR：早期壽命失效率
EM：電遷移
EMC：電磁兼容
FG：故障等級(jí)
GFL：粗/細(xì)氣漏測(cè)試
GL：熱電效應(yīng)引起閘極漏電
HBM：靜電放電人體模式
HTSL：高溫儲(chǔ)存壽命
HTOL：高溫工作壽命
HCL：熱載流子注入效應(yīng)
IWV：內(nèi)部吸濕測(cè)試
LI：引腳完整性
LT：蓋板扭力測(cè)試
LU：閂鎖效應(yīng)
MM：靜電放電機(jī)械模式
MS：機(jī)械沖擊
NBTI：富偏壓溫度不穩(wěn)定性
PAT：過(guò)程平均測(cè)試
PC：預(yù)處理
PD：物理尺寸
PTC：功率溫度循環(huán)
SBA：統(tǒng)計(jì)式良率分析
SBS：錫球剪切
SC：短路特性描述
SD：可焊性
SER：軟誤差率
SM：應(yīng)力遷移
TC：溫度循環(huán)
TDDB：時(shí)經(jīng)介質(zhì)擊穿
TEST：應(yīng)力測(cè)試前后功能參數(shù)
TH：無(wú)偏壓濕熱
THB、HAST：有施加偏壓的溫濕度或高加速應(yīng)力試驗(yàn)
UHST：無(wú)偏壓的高加速應(yīng)力試驗(yàn)
VFV：隨機(jī)振動(dòng)
WBS：焊線剪切
WBP：焊線拉力

溫濕度試驗(yàn)條件整理：

THB(有施加偏壓的溫濕度，依據(jù)JESD22 A101)：85℃/85%R.H./1000h/bias
HAST(高加速應(yīng)力試驗(yàn)，依據(jù)JESD22 A110)：130℃/85%R.H./96h/bias、110℃/85%R.H./264h/bias

AC壓力鍋，依據(jù)JEDS22-A102：121℃/100%R.H./96h
UHST無(wú)偏壓的高加速應(yīng)力試驗(yàn)，依據(jù)JEDS22-A118，設(shè)備：HAST-S)：110℃/85%R.H./264h
TH無(wú)偏壓濕熱，依據(jù)JEDS22-A101，設(shè)備：THS)：85℃/85%R.H./1000h

TC(溫度循環(huán)，依據(jù)JEDS22-A104，設(shè)備：TSK、TC)：
等級(jí)0：-50℃←→150℃/2000cycles
等級(jí)1：-50℃←→150℃/1000cycles
等級(jí)2：-50℃←→150℃/500cycles
等級(jí)3：-50℃←→125℃/500cycles
等級(jí)4：-10℃←→105℃/500cycles

PTC(功率溫度循環(huán)，依據(jù)JEDS22-A105，設(shè)備：TSK)：
等級(jí)0：-40℃←→150℃/1000cycles
等級(jí)1：-65℃←→125℃/1000cycles
等級(jí)2～4：-65℃←→105℃/500cycles

HTSL(高溫儲(chǔ)存壽命，JEDS22-A103，設(shè)備：OVEN)：
塑料封裝零件： 等級(jí)0：150℃/2000h
等級(jí)1：150℃/1000h
等級(jí)2～4：125℃/1000h or 150℃/5000h
陶瓷封裝零件：200℃/72h

HTOL(高溫工作壽命，JEDS22-A108，設(shè)備：OVEN)：
等級(jí)0：150℃/1000h
等級(jí)1：150℃/408h or 125℃/1000h
等級(jí)2：125℃/408h or 105℃/1000h
等級(jí)3：105℃/408h or 85℃/1000h
等級(jí)4：90℃/408h or 70℃/1000h

ELFR(早期壽命失效率，AEC-Q100-008)：通過(guò)這項(xiàng)應(yīng)力測(cè)試的器件可以用在其他應(yīng)力測(cè)試上，通用數(shù)據(jù)可以使用，ELFR前后的測(cè)試在是溫和高溫條件下進(jìn)行。