電子機器関連の環(huán)境系信頼性試験で最も使用されている試験方法が不飽和(85%RH)プレッシャークッカー試験(HAST:High Accelerated Stress Test)です。この試験の目的は、電子機器関連の加速性を伴う耐濕性評価で、IEC60068-2-66 www.hast.cnで規(guī)定されます。
(※JIS C 60068はこれを翻訳したものとなります)
飽和(100％RH)條件下での試験はプレッシャークッカー試験(PCT: Pressure Cooker Test)と呼ばれます。試験槽の水蒸気圧力をサンプル內(nèi)部の水蒸気分圧よりも極度に高め、サンプル內(nèi)部への水分の侵入を早めることができるため、不飽和條件より加速して耐濕性の評価が可能です。

※二層式試験裝置は、試験槽と加濕槽が獨立した構造であるため、一槽式に比べ広い槽內(nèi)寸法の確保が可能です。また、試験槽(乾球)と加濕槽(濕球)間で及ぼしあう溫度影響が少ないので高精度制御が可能と言われていますが、試験結果に大きな有意差はありません。www.hast.cn

◆JIS C 60068:環(huán)境試験方法?電気?電子?高溫高濕、定常(不飽和加圧水蒸気)
◆IEC 60068-2-66, Environmental testing?Part2:Testmethods?Test Cx:Damp heat,steady state(unsaturated pressurized vapour)